一文讀懂高光譜測試系統(tǒng)的測試原理及方法

更新時間：2022-05-25

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　　高光譜測試系統(tǒng)是高光譜相機、顯微鏡、計算機等結(jié)合的新型應用方式，借助顯微鏡結(jié)構在不同放大倍率下把待測試樣品的微觀尺度進一步的提升的特點，能夠充分觀察物質(zhì)在其微觀尺度上的圖像信息，從而進一步獲取物質(zhì)的光譜信息，這樣充分利用高光譜在光譜和圖像方面的優(yōu)勢，結(jié)合顯微機構系統(tǒng)，把高光譜技術的應用又進一步進行了拓展。

　　高光譜測試系統(tǒng)的測試原理及方法：

　　高光譜成像技術是近二十年來發(fā)展起來的基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術，其突出的應用是遙感探測領域，并在越來越多的民用領域有著更大的應用前景。它集中了光學、光電子學、電子學、信息處理、計算機科學等領域的先進技術，是傳統(tǒng)的二維成像技術和光譜技術有機的結(jié)合在一起的一門新興技術。

　　高光譜成像技術的定義是在多光譜成像的基礎上，在從紫外到近紅外(200-2500nm)的光譜范圍內(nèi)，利用成像光譜儀，在光譜覆蓋范圍內(nèi)的數(shù)十或數(shù)百條光譜波段對目標物體連續(xù)成像。在獲得物體空間特征成像的同時，也獲得了被測物體的光譜信息。

　　光譜儀的光譜分辨率由狹縫的寬度和光學光譜儀產(chǎn)生的線性色散確定。最小光譜分辨率是由光學系統(tǒng)的成像性能確定的(點擴展大小)。

　　成像過程為：每次成一條線上的像后(X方向)，在檢測系統(tǒng)輸送帶前進的過程中，排列的探測器掃出一條帶狀軌跡從而完成縱向掃描(Y方向)。綜合橫縱掃描信息就可以得到樣品的三維高光譜圖像數(shù)據(jù)。

　　利用顯微高光譜系統(tǒng)在10X倍的物鏡下能夠觀察到LED光源上的微觀構造，并且能夠準確的測試到不同led光源對應的特征波長，而且圖像也非常的清晰(實際測試時樣品并非*平整)，通過焦距調(diào)試，能夠凸顯出光源自身的一些特征信息。

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